Microscopia elettronica e microanalisi EDS
Ambito di applicazione:
AgrifoodCultural HeritageEnergy & EnvironmentMobility & TransportationSmart Technologies for Industry and BusinessSpace ScienceTipologia di strumentazione:
Imaging - MicroscopiaStrumentazioni e specifiche tecniche
Microscopio ELETTRONICO JEOL JSM IT300LV (High Vacuum - Low Vacuum)
- Possibilità di lavorare in alto vuoto (High Vacuum) e in pressione parziale (Low Vacuum fino a 600 Pa)
- Tungsten filament source
- Sensori: Secondary Electron (SE) e BackScattered Electron (BSE)
- Portacampioni per campioni di grande diametro con grande escursione nelle tre direzioni (100mm X e Y, 50mm Z)
- Ingrandimento da 5X a 300.000X
- Elevata risoluzione (3nm HV @30kV, 4nm LV @30kV)
- Metallizzatore a grafite con spessore di metallizzazione regolabile
Microanalisi EDS Oxford INCA Energy 200 con detector INCA X-act SDD thin window
- Analisi quantitativa e qualitativa multielementare dal Z=6 a Z=92
- Acquisizione di mappe semiquantitative e quantitative fino a 8000x8000 pixel
- Large area mapping
- Low Vacuum semiquantitative analysis
- High automation in particle counting and analysis
Applicazioni e servizi
Applicazioni
- Imaging a scansione ad alta risoluzione e a basso ingrandimento, anche 3D
- Imaging ad altissima risoluzione
- Imaging di campioni biologici anche senza pretrattamento
- Studi di morfologia in crescita cristallina
- Analisi mineralogiche, geologiche, pedologiche, giacimentologiche
- Analisi metallurgiche, ceramurgiche, caratterizzazione di materiali
- Analisi di particelle aero - e fluido - disperse, statistiche di campioni particellari
- Analisi ambientali (fibre e amianti, metalli dispersi, alterazioni e degradazioni)
- Analisi per i beni culturali senza trattamento o prelievo di campioni
Servizi
- Formazione dei nuovi utenti
- Assistenza tecnica
- Acquisizione immagini e servizi analitici
- Consulenza per l'elaborazione delle immagini e l’interpretazione dell'analisi quantitativa
- Consulenza per l'applicazione di tecniche avanzate di microscopia e di analisi
Accesso e tariffario
Il tariffario e le modalità di accesso all’infrastruttura sono consultabili su www.dst.unito.it » Servizi e strutture » Laboratori di ricerca » Microscopio Elettronico a Scansione/Microanalisi in Dispersione di Energia.
Ultimo aggiornamento: 23/10/2020