Microscopia elettronica a scansione

• TESCAN S9000G: Microscopio Elettronico di classe UHR accoppiato a una colonna ionica a ioni di Gallio che consente l'esecuzione di processi di deposizione di vari materiali, tagli, scavi e ricostruzione tomografiche di tipo 3D su un ampio spettro di campioni
• Lo strumento è dotato di avanzate tecniche per l'analisi elementare (EDS, servizio già attivo, e TOF-SIMS, servizio attivo da aprile 2021) e cristallografica (EBSD, servizio già attivo) dei ampioni
• Lo strumento permette una rapida acquisizione dei dati necessaria per analisi strutturali 3D e caratterizzazione microanalitica di campioni 3D (servizio da aprile 2021). I dati EDS ed EBSD possono essere ottenuti simultaneamente durante la tomografia FIB-SEM e post-processati tramite un software dedicato per ottenere ricostruzioni di campioni 3D

Microscopia elettronica in trasmissione TEM ad alta risoluzione

• Microscopio TEM High Resolution JEOL 300 kV con microanalisi

Tomografia a Raggi X ad alta risoluzione

• Apparato per microtomografia computerizzata con sorgente di raggi X ad alta luminosità costituito da:
  - Sorgente ad alta brillanza a metallo fuso
  - Flat panel per imaging con raggi x di 40x40 cm2 di superficie
• La sorgente di raggi X a metallo fuso è predisposta anche per l’utilizzo nell’irraggiamento di materiali a fini di nano-fabbricazione

Diffrattometria a raggi X da polveri

• Diffrattometro a raggi X automatizzato per l'analisi di materiali poli-cristallini 'SMARTLAB' della Rigaku Corporation, equipaggiato con tubo RX con anticatodo in rame, ottiche automatiche per raccolta in riflessione (Bragg-Brentano) e trasmissione e di detectors sia 'multistrip', sia ad area
• Lo strumento è dotato di 'camera calda' per l'esecuzione di analisi in condizioni non-ambientali e di un kit per analisi micro-diffrattometriche, completo di ottiche specificamente dedicate e videocamera per puntamento automatizzato degli spot di interesse

Diffrattometria a raggi X da cristallo singolo

• Diffrattometro a quattro cerchi Gemini R-Ultra per cristallo singolo e polveri cristalline
• Sorgente Mo e Cu, convenzionali e microfocus. Misure tra 80-500 K e ad alta pressione

Attrezzatura acquisita anche con il contributo di: Regione Piemonte, Compagnia di San Paolo, Unione Europea.